2017 Tektronix 創新論壇   

第六波科技革命

領先群倫 洞燭機先

• 台北場  June 8th     維多麗亞酒店
• 新竹場  June 13th   新竹國賓大飯店


Track A Track B
8:50am – 9:20am 報到
9:20am – 10:20am 【主題演講 】趨勢分析: 100G / 400G數據中心發展與市場前景
本課程邀請光電元件領域傑出專家交通大學 郭浩中教授擔任主題演獎嘉賓。郭教授將介紹用於100G / 400G 數據中心的VCSEL和DFB Laser的內涵, 當前最熱門的矽光子學與OEIC, 以及光電市場趨勢與前景的精闢分析。
10:20am – 11:10am

快速的 100G/400G 數據中心互連除錯和驗證
驗證 100G (NRZ) 和400G (PAM-4) 數據中心的晶片和網路連結設計:全方位檢視 OIF-CEI 4.0 和 IEEE 802.3bs/cd/bm/bj 的當前和新興電氣規格。本課程會檢視 PAM-4 SNDR 和連結訓練分析,因為其涉及這些技術領域的除錯和驗證作業。 對於正在 100G 和 400G 數據中心網路連結技術中尋找改善除錯技術方法的設計和驗證工程師而言,這將會是一個理想選擇。
Pavel Zivny & Eric Shen 簡化複雜 IoT 設計和部署中的射頻測試
無論您是為可穿戴式設備、智慧型能源、工業應用、交通、建築或是家庭自動化等設備設計 IOT 裝置,您都將瞭解射頻電路中常遇到的 4 個關鍵的 IOT 設計挑戰:
  1. 驗證和疑難排解常見的無線連結,包括 802.11 a/b/g/j/n/ac、藍牙、LoRa、Zigbee、RFID 等
  2. 將天線與電路配對以達成最大功率傳輸
  3. 在進入試驗箱前針對主要監管標準檢查預相容性
  4. 對您設計中的干擾無線電進行疑難排解
Laurance Yeh
11:10am – 11:40am 產品展示
11:40am - 12:30am

輕鬆解決 100G/400G 的光學 PAM4 量測挑戰
400G 乙太網路由標準 802.3cd、802.3bs 的多種 IEEE 光學技術組成。這些量測技術仍處於早期的成長曲線上,本課程將協助設計師和測試工程師針對 400G 光學標準找出最有效的光學測試策略。在此課程中,工程師將瞭解如何在光學實體層中進行所需的量測,包括 TDECQ 評估技術。
Pavel Zivny & David Yang 解決 IoT 功耗量測挑戰
到 2020 年前,連接到網際網路的設備預計將成長超過 200 億台,並且將繼續保持兩位數的成長率。這些裝置中有許多是可穿戴裝置、可攜式醫療裝置和電池供電的工業感應器/發射器。對於這些裝置,最大限度地延長電池壽命即至關重要。為了滿足電池壽命的設計要求,設計人員需要確定裝置所消耗的總功耗。設計人員需要在裝置的所有操作狀態下量測負載電流;其中包括非常低的電流 (例如當裝置處於其休眠模式時僅為微安培的電流),以及當裝置處於其有效操作模式時處於安培範圍內的電流。此外,當裝置正在傳輸資料時,負載電流可能會是持續僅 10 微秒的短脈衝串。因此,需要高靈敏度和速度來擷取裝置在其所有操作狀態下消耗的所有功率。此外,電池的特性會影響裝置的效能,特別是在接近電池壽命或放電週期結束時。分析電池特性的一種方式是模擬電池,使得能在最真實的條件下執行裝置的測試。
本次研討會將:
  • 檢討在各種操作狀態下擷取整體裝置電流消耗的挑戰
  • 介紹電流量測選項,並提供卓越的解決方案
  • 為具有不良,良好的恆定電壓源 (電池) 的裝置供電提出挑戰
  • 引入可以在電池放電週期內模擬電池的來源,並在任何電池狀態下提供高效、可重複的裝置效能測試
  • 展示如何為任何類型的電池建立模型
  • 介紹評估電池壽命的方法與依據.
Alan Ivons
12:.30am – 1:30pm 午餐
1:30pm - 2:20pm

克服 Type-C 序列標準 (如 USB、DisplayPort 和 Thunderbolt) 的 Tx/Rx 測試挑戰
Type-C 介面的引入及其在多個序列標準中的實作為設計和驗證工程師帶來了全新的測試挑戰,包括新的相容性通道要求、接收器迴路通訊協定感知、Alt 模式切換,以及相容性和認證處理。我們將探討 USB3.1、DisplayPort 1.4 和 Thunderbolt 3.0 標準的更新 (這些標準都會出現在單一的 Type-C 接頭上)。 本課程將深入瞭解 Type-C 介面的內容及如何在多種標準中使用,並討論所遇到的各種測試挑戰,以及探索能解決實體層發射器和接收器測試挑戰的可能解決方案。
Diwan Keyur 滿足所有電源電子測試要求的完整解決方案
對提高電源效率的需求正在改變電子產品的設計方式......不僅是訊號和功率位準,甚至還包括如何管理和控制的複雜性。日常電子系統的設計和測試 (例如交流/直流電源供應器、電源轉換器和逆變器、LED 驅動器和行動產品) 均遵循一個明確定義的路徑,不論是挑選正確的組件,或是驗證最終組件的相容性。每個階段均受到最終效率要求以及高準確度測試和除錯策略需求的影響。
Tektornix & Keithley 解決方案對於每個開發階段都至關重要,並能使這些產品更快上市。
探索 Tektornix 和 Keithley 業界領先的電源測試解決方案,以用於測試交流 - 直流、直流 - 交流和直流 - 直流電源轉換器。不論是電池供電的可攜式裝置,或是高功率轉換器和逆變器,皆可進行從 mW 到 MW 的準確功率參數量測作業。
瞭解如何分析分立組件的特性、除錯類比和數位電路、測試切換、傳導和磁損耗、量測高共模隔離訊號、測試整體系統效率、量測滿載和空載時的交流 / 直流功耗,並瞭解相容性標準和預相容性測試。
Alan Ivons
2:20pm - 3:10pm

新一代 DDR4/LPDDR4 記憶體的新特性分析技術
數據中心和行動/汽車應用將會變得越來越複雜,需要以更快的速度存取大量資料,這將趨使高效能記憶體介面 (如 DDR4 / LPDDR4 及更高版本) 的開發。我們將提供最新的特性分析和除錯技術的更新,以便能夠分析最高的 DDR4 / LPDDR4 速度等級 (DDR4-3200 / LPDDR4-4266)。瞭解可用於存取 DRAM 介面上訊號的新探測技術,以及 Tektronix 示波器上提供的各種工具,使您能夠快速擷取、識別、分析和分析記憶體介面特性。隨著標準的不斷發展,業界正考慮採用如決策回饋等化器 (DFE) 等新功能,本課程的最後將會從除錯和驗證角度來討論對下一代記憶體有何期待。本課程非常適合正準備處理下一代記憶體介面的記憶體驗證工程師。
Darshan Mehta VNA的各項應用與測試
向量網路分析儀可用於確定 S 參數被動式組件,包括電纜、濾波器、雙工器、天線等,以分析如功率放大器等主動式模組或其他許多模組的特性。您將瞭解使用 VNA 的 3 個關鍵應用:
  1. 通用 VNA 在大學的射頻實驗室中是必備的儀器之一。隨著工程師越來越需要具備射頻體驗,如何滿足在大學教室和實驗室中對 VNA 的需求?
  2. 由於形狀因素,許多物聯網客戶必須設計自己的天線,才能使用現成的無線模組。如何使用 VNA 完整分析天線的特性,以確保能傳輸最大的功率?
  3. 無線電力傳輸 (WPT) 可在空氣中傳輸電力,而不需使用承載電線。如何確保 WPT 系統中的電源轉移效率?

Zhang Zhi
3:10pm – 3:40pm 產品展示
3:40pm - 4:30pm

PCI Express、SAS/SATA 的 Tektronix 儲存測試解決方案
您準備好測試下一代儲存裝置了嗎? 隨著如 PCI Express 和 SAS 等關鍵的儲存業界標準從第 3 代發展到第 4 代,全新的測試和除錯挑戰也隨之出現。由於電氣測試要求 (如連結等化、通道餘裕和前向糾錯 (FEC)) 出現,測試解決方案必須能夠相容、除錯和自動化,包括實體層和資料連結層。將儲存裝置或系統置入回路將會變得越來越具有挑戰性,特別是在訊號路徑中中繼器/重新定時器 IC 的使用日益增加時。在本次研討會中,處理 PHY 儲存介面量測的工程師將能從充分瞭解這些新出現的測試和除錯挑戰,並瞭解更多有關適用於 PHY 和通訊協定感知測試的 Tektronix 完整發送器和接收器測試儲存解決方案。
Joe Allen 經典實測體驗營:
實機操作-電源/RF/史密斯圖(Smith chart)三大領域的量測體驗
本課程中您將搶先使用太克最新技術和產品,測量和體驗這些領域中的經典測試項目 快速且深刻了解電源產品的交換損失/漣波(ripple)量測, RF領域的EMI量測及濾波器的阻抗特性分析(Smith chart). 不管是現在或將來, 都可能會是您工作上的最佳量測經驗! (限30名, 額滿為止) 。
Laurance Yeh & William Wu
4:30pm 幸運抽獎

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