简化MOSFET和MOSCAP器件特性分析

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泰克最新的电子指南“简化MOSFET和MOSCAP器件特性分析”解答了您关于半导体测量相关工具和技术的如下问题:

  • 我知道低电平DC测量中有误差,但怎样识别和消除这些误差呢?
  • 我的AC阻抗测量呢?我怎样诊断和校正误差?
  • 在MOSFET和MOScaps上进行DC测量时怎样使误差达到最小?
  • 在MOSFETs和MOScaps上进行常见C-V测量有哪些最佳惯例?
  • 在我不得不重新配置探头站从DC I-V测量切换到C-V测量时,我开始遇到测量问题,为什么这么复杂?

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